閃存芯片失效分析與測試技術(shù)研討會-暨置富閃存芯片智能測試系統(tǒng)發(fā)布會成功舉行

     9月9日，由置富科技主辦的“閃存芯片失效分析與測試技術(shù)研討會-暨置富閃存芯片智能測試系統(tǒng)發(fā)布會”在深圳中科谷產(chǎn)業(yè)園舉行。

     眾所周知，存儲芯片在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中占據(jù)著重要地位，是信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)中重要的組成部分，但閃存芯片隨著迭代質(zhì)量不斷下降，各廠商技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)不一，面對目前的產(chǎn)業(yè)市場環(huán)境，企業(yè)該如何應(yīng)對閃存質(zhì)量下降所帶來的影響，是這次會議討論的主要話題。

     本次會議邀請到全國信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會信息技術(shù)研究中心、深圳市計算機(jī)行業(yè)協(xié)會、中國科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院、中國長城科技集團(tuán)股份有限公司、深圳宏芯宇電子股份有限公司、深圳市華瀾微電子有限公司、中電信源科技發(fā)展(北京)有限公司、長江存儲科技有限責(zé)任公司、比亞迪股份有限公司、創(chuàng)維集團(tuán)科技管理有限公司、北京憶芯科技有限公司、深圳市得一微電子有限責(zé)任公司、聯(lián)蕓科技(杭州)有限公司、中科谷產(chǎn)業(yè)發(fā)展中心等重要嘉賓參會致辭，中國科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院劉志權(quán)博士、華中科技大學(xué)教授劉政林博士、置富科技武漢研發(fā)中心陳毅成博士作為本次研討會重要發(fā)言人就閃存芯片可靠性發(fā)表相關(guān)觀點(diǎn)。

     置富科技董事長肖軍先生表示：“置富科技正處于難得的戰(zhàn)略發(fā)展機(jī)遇期，得益于國產(chǎn)替代進(jìn)口政治經(jīng)濟(jì)紅利、半導(dǎo)體行業(yè)大發(fā)展紅利、大灣區(qū)建設(shè)政策紅利、多層次資本市場深化改革紅利等，多重加持，置富科技進(jìn)入了更為廣闊高速的發(fā)展賽道。真誠希望能向在座的行業(yè)翹楚學(xué)習(xí)，共同發(fā)展。未來之路，共享置富。”

全國信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會信息技術(shù)研究中心陳海主任作重要講話

     陳主任在會議中強(qiáng)調(diào)，存儲芯片在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中比重達(dá)到20%，是信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)中重要的組成部分，但核心技術(shù)一直被國外高度壟斷。置富科技在閃存測試技術(shù)方面，對存儲的壽命預(yù)測、存儲的可靠性分析等研制相關(guān)的驗(yàn)證測試工具，彌補(bǔ)了國內(nèi)對SSD產(chǎn)品、產(chǎn)業(yè)發(fā)展過程質(zhì)量的綜合評價落地實(shí)施，對國產(chǎn)SSD產(chǎn)品的自主可控發(fā)展，對SSD產(chǎn)品在信創(chuàng)、軍用裝備、工業(yè)控制等領(lǐng)域應(yīng)用產(chǎn)品的質(zhì)量提升具有重要意義。

     深圳市計算機(jī)行業(yè)協(xié)會杜和平執(zhí)行會長對會議的召開表示熱烈的祝賀！他在致辭中指出：隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升，測試和驗(yàn)證也變得更加重要。置富科技專注于研發(fā)和生產(chǎn)閃存芯片測試設(shè)備，是國內(nèi)該領(lǐng)域的知名供應(yīng)商，2021年初加入?yún)f(xié)會，為我國半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展注入了有生力量。今后，協(xié)會將進(jìn)一步整合上下游資源，促進(jìn)鏈上企業(yè)深入合作，實(shí)現(xiàn)多方共贏。

     中國科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院劉志權(quán)博士專題演講：電子材料與器件的分析檢測與失效分析

劉志權(quán)博士是中國科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院研究員，中國科學(xué)院大學(xué)及中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)博士生導(dǎo)師，深圳先進(jìn)電子材料國際創(chuàng)新研究院技術(shù)平臺部部長，中國科學(xué)院百人計劃海外引進(jìn)學(xué)者。

     華中科技大學(xué)教授劉政林博士專題演講：閃存芯片失效與預(yù)防

劉政林博士是華中科技大學(xué)光學(xué)與電子信息學(xué)院教授，2007年入選教育部新世紀(jì)優(yōu)秀人才計劃。研究方向涵蓋數(shù)字集成電路、硬件安全、安全CPU、車聯(lián)網(wǎng)安全、存儲器測試等。

     近年來，隨著閃存可靠性研究的不斷深入，研究發(fā)現(xiàn)閃存實(shí)際使用壽命遠(yuǎn)高于標(biāo)稱值，原始錯誤率無法有效預(yù)測不可糾正錯誤。對此劉政林博士提出了閃存預(yù)防策略與方法模型，并希望未來應(yīng)用到，如云存儲、數(shù)據(jù)中心、軌道交通，航天航空等這些具有使用壽命需求的設(shè)備，讓存儲設(shè)備能夠具有更長的使用壽命、降低大型存儲設(shè)備數(shù)據(jù)丟失的風(fēng)險。

     置富科技武漢研發(fā)中心陳毅成博士專題演講：3D TLC工藝偏差和可靠性：挑戰(zhàn)與應(yīng)對

陳毅成博士是華中科技大學(xué)固體電子學(xué)和微電子學(xué)博士，入選武漢市第十二批“3551光谷人才計劃”， 研究方向包括軍規(guī)固態(tài)硬盤設(shè)計，圖形編解碼器的設(shè)計，數(shù)據(jù)存儲加密技術(shù)，加解密算法側(cè)信道攻擊和防護(hù) 技術(shù)、安全芯片設(shè)計等。

    陳博士提出，研究工藝偏差效應(yīng)對3D NAND可靠性非常關(guān)鍵。自適應(yīng)的錯誤預(yù)測可以有效預(yù)防工藝偏差帶來的不良結(jié)果，在檢測和預(yù)測的基礎(chǔ)上，多種機(jī)制可以用來保證數(shù)據(jù)的可靠性，提高使用壽命。

      置富科技戰(zhàn)略部總經(jīng)理王龍表示，我國目前的IT底層標(biāo)準(zhǔn)、架構(gòu)和產(chǎn)品大多是由美國IT公司制定的，一直以來我們都被卡脖子，受制于人。在國家給予的大力政策支持下，我們要建立自己的標(biāo)準(zhǔn)，讓國產(chǎn)化產(chǎn)業(yè)更加健全和規(guī)范。我們希望通過更科技化的方式改善目前混亂的存儲市場狀況，讓存儲產(chǎn)業(yè)更加立體更加標(biāo)準(zhǔn)化。

      置富科技武漢公司總經(jīng)理李四林提出，目前國內(nèi)市場對于存儲行業(yè)沒有很明確的規(guī)范，為了降低成本，閃存質(zhì)量不斷下降，壽命越來越低，同一批次閃存顆粒的品質(zhì)特性都不盡相同，再者不同行業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用，對所需存儲產(chǎn)品的品質(zhì)特性要求不一。

      置富科技正是在這種行業(yè)環(huán)境下，發(fā)明了壽命預(yù)測技術(shù)和閃存芯片智能測試系統(tǒng)，能對閃存顆粒的質(zhì)量進(jìn)行精準(zhǔn)檢測分析。目前公司產(chǎn)品中，置富科技的測試系統(tǒng)從便攜式、生產(chǎn)版、科研版等一應(yīng)俱全，可以滿足科研單位、生產(chǎn)廠商、檢測中心等的不同需求，后續(xù)還將陸續(xù)推出面向嵌入式設(shè)備的EMMC/UFS等測試系統(tǒng)。

     在會議的現(xiàn)場，數(shù)家品牌企業(yè)與置富科技達(dá)成合作意向并參觀了置富科技閃存芯片質(zhì)量研究實(shí)驗(yàn)室，共同助力閃存質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)化的進(jìn)程。

     在存儲行業(yè)蓬勃發(fā)展的趨勢下，置富科技獨(dú)有的閃存芯片智能測試系統(tǒng)的推出將代表著重要意義，成為企業(yè)間的橋梁，幫助上下游良性協(xié)同發(fā)展，為推動存儲產(chǎn)業(yè)國產(chǎn)化貢獻(xiàn)微薄之力。