CITE2023第十一屆中國電子信息博覽會完美收官

本次展會，置富科技重點展示了閃存芯片智能測試系統(tǒng)-實驗版（FT-N016W）、便攜式-專業(yè)版（FT-N008B）、eMMC智能測試系統(tǒng)以及國產化固態(tài)存儲產品，吸引了不少專業(yè)觀眾前來交流探討，尋找合作契機。尤其是對于置富自主研發(fā)的閃存壽命預測技術，引發(fā)了大家深刻的探討，受到廣泛關注。該技術通過長時間大量數據積累分析和模擬，創(chuàng)新地將人工神經網絡算法應用于Flash顆粒測試技術中，在非破壞性的閃存測試方式下，預測閃存芯片block的剩余耐寫次數和質量等級。對閃存芯片的可靠性做快速有效的篩選，從而提升存儲器的可靠性和使用壽命，為企業(yè)降本增效。

閃存智能分級   助力產業(yè)發(fā)展

展會現場，置富閃存芯片智能測試系統(tǒng)-實驗版（FT-N016W）也備受矚目，眾多存儲行業(yè)客戶與工程師深入探討閃存測試的必要性以及測試設備功能，可以為客戶解決的痛點等問題。該設備是一種可以量身定制測試方案的綜合閃存測試系統(tǒng)，系統(tǒng)并行測試閃存顆粒數量最多可達16顆，可支持多種測試pattern及自定義測試參數功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現閃存顆粒剩余壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態(tài)，完成測試后可以方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供最直觀的圖形化測試數據，為閃存顆粒等級分類和應用提供最精確的參考依據，并基于閃存顆粒品質檢測結果實現智能分級，可以為高級工程師閃存質量分析、科研單位閃存質量研究提供有效助力，為半導體產業(yè)發(fā)展提供可靠的測試工具。

此外，置富科技還有針對量產型測試的閃存測試設備：生產版（FT-N240）、科研版（FT-N200）、寬溫版（FT-N240B）、卓越版（FT-N512），可提供寬溫測試環(huán)境，并行測試閃存顆粒種類最多達64種，并行測試閃存顆粒數量最多達512顆，可以大大提高閃存芯片的鑒定能力和檢測效率，滿足存儲廠商和大型檢測中心的測試需求，為高端領域應用提供了可靠的存儲質量保障。

置富科技以閃存智能測試和分級篩選為核心，逐步形成以芯片測試、方案應用、產品銷售為一體的全產業(yè)鏈企業(yè)，參與本次展會也是為了響應市場需求，協(xié)同上下游產業(yè)鏈，共同推動半導體產業(yè)的高質量可持續(xù)發(fā)展。